產(chǎn)品時(shí)間:2024-08-26
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廠商性質(zhì):代理商
生產(chǎn)地址:美國
OmniScan SX相控陣探傷儀|啟航檢測科技(上海)有限公司*供應(yīng)奧林巴斯OLYMPUS/OmniScan SX相控陣探傷儀
奧林巴斯非常自豪地推出了OmniScan SX儀器,這是一款得益于20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗(yàn),體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了讓用戶更加方便地操作儀器,OmniScan SX探傷儀在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器,針對(duì)檢測要求較低的應(yīng)用,這款儀器操作起來非常方便,具有很高的性價(jià)比。 |
OmniScan SX儀器有兩種型號(hào):SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元,與僅具有UT通道的SX UT一樣,也配備了一個(gè)常規(guī)UT通道,可以進(jìn)行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比,OmniScan SX重量輕33 %,體積小50 %,展現(xiàn)了OmniScan產(chǎn)品的便攜性能。 OmniScan SX儀器的觸摸屏提供全屏模式選項(xiàng),提高了可視性,而且基本上將許多菜單功能轉(zhuǎn)化為簡單的觸摸屏操作。直觀的界面使用戶可以流暢地進(jìn)行菜單選擇、縮放、閘門調(diào)節(jié)、光標(biāo)移動(dòng),以及文本和參數(shù)值的輸入。這些特性,加上其他一些優(yōu)質(zhì)的集成功能,包括簡單易行的設(shè)置和校準(zhǔn)向?qū)В琒掃描和A掃描顯示的快速刷新率,以及快速脈沖重復(fù)頻率(PRF),使得OmniScan SX儀器成為一款高效的檢測工具。 |
OmniScan SX儀器*兼容于奧林巴斯的各種掃查器、探頭和附件,以及其專門的配套軟件:NDT SetupBuilder和OmniPC。軟件和硬件產(chǎn)品配套使用,打造出從設(shè)計(jì)、設(shè)置到采集、分析的各個(gè)環(huán)節(jié)都非常精簡高效的檢測流程。 |
用途廣泛的Omniscan SX儀器的推出進(jìn)一步壯大了奧林巴斯業(yè)已齊備的創(chuàng)新型解決方案庫。開發(fā)這些解決方案的宗旨是簡化工作流程,提高整體生產(chǎn)力。
相控陣焊縫檢測OmniScan PA是奧林巴斯為石油和天然氣行業(yè)開發(fā)的手動(dòng)和半自動(dòng)相控陣焊縫檢測解決方案的核心。這些系統(tǒng)不僅可用于符合ASME、API及其他規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)的檢測,而且還具有高速探測、便于缺陷指示判讀的特性。 |
腐蝕成像和復(fù)合材料檢測隨著OmniScan SX儀器的出現(xiàn),零度檢測變得更為簡便易行。 在腐蝕或復(fù)合材料的檢測應(yīng)用中,奧林巴斯可提供探測材料中異常現(xiàn)象或壁厚損失的已經(jīng)過現(xiàn)場驗(yàn)證的解決方案。 |
TOFD焊縫檢測TOFD是用于初步探測焊縫缺陷的一種簡便、高效的檢測方法。這種方法速度快,性價(jià)比高,能夠定量焊縫體積中的缺陷,而焊縫是制造缺陷高發(fā)的區(qū)域。 |
組件檢測組件檢測采用超聲技術(shù),可以探測到裂紋、壁厚減薄以及其他各種缺陷。OmniScan SX儀器可以使用角度聲束和線性零度聲束兩種方式進(jìn)行檢測,是完成這類單組檢測應(yīng)用的一個(gè)性價(jià)比很高的解決方案。 |
外殼 | 總體尺寸(寬 × 高 × 厚) | 267 mm × 208 mm × 94 mm |
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機(jī)殼 | 重量 | 3.4 kg,含電池 |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 存儲(chǔ)設(shè)備 | SDHC卡*,或大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)USB存儲(chǔ)設(shè)備。 *建議使用Lexar品牌存儲(chǔ)卡,以獲得優(yōu)質(zhì)結(jié)果。 |
數(shù)據(jù)文件容量 | 300 MB | |
I/O端口 | USB端口 | 2個(gè)符合USB 2.0技術(shù)規(guī)格的USB端口 |
音頻報(bào)警 | 有 | |
視頻輸出 | 視頻輸出(SVGA) | |
I/O線 | 編碼器 | 雙軸編碼器線(正交、向上、向下或時(shí)鐘/方向) |
數(shù)字輸入 | 4個(gè)數(shù)字TTL輸入,5 V | |
數(shù)字輸出 | 3個(gè)數(shù)字TTL輸出,5 V;每個(gè)輸出電流為15 mA。 | |
采集開關(guān) | 有,通過對(duì)一個(gè)數(shù)字輸入進(jìn)行配置的方式實(shí)現(xiàn) | |
電源輸出線 | 5 V,500 mA電源輸出線(帶短路保護(hù)) | |
步速輸入 | 5 V TTL步速輸入 | |
顯示 | 顯示屏尺寸 | 8.4英寸 (對(duì)角線) |
分辨率 | 800像素 × ?600像素 | |
亮度 | 600 cd/m2 | |
觀察角度 | 水平:–80°~ 80°;豎直:–60°~ 80° | |
顏色數(shù)量 | 1千6百萬 | |
顯示屏 | 類型 | 薄膜晶體管液晶顯示屏(TFT LCD) |
電源供應(yīng) | 電池類型 | 智能鋰離子電池 |
電池?cái)?shù)量 | 1個(gè) | |
電池供電時(shí)間 | 正常操作條件下,至少6小時(shí) | |
環(huán)境技術(shù)規(guī)格 | 工作溫度范圍 | -10 °C ~ 45 °C |
存儲(chǔ)溫度范圍 | –20 °C ~ 60 °C,含電池 –20 °C ~ 70 °C,不含電池 | |
相對(duì)濕度 | 45 °C無冷凝的條件下,相對(duì)濕度為70 %。 | |
侵入保護(hù)評(píng)級(jí) | 設(shè)計(jì)符合IP66評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的要求。 | |
防撞擊評(píng)級(jí) | 通過美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G 516.6中的墜落測試。 | |
超聲技術(shù)規(guī)格(適用于OMNISX-1664PR) | 接口 | 1個(gè)相控陣接口:奧林巴斯PA接口 2個(gè)UT接口:LEMO 00 |
聚焦法則數(shù)量 | 256個(gè) | |
探頭識(shí)別 | 自動(dòng)探頭識(shí)別 |
脈沖發(fā)生器/接收器 | 孔徑 | 16個(gè)晶片 | ||
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晶片數(shù)量 | 64個(gè)晶片 | |||
脈沖發(fā)生器 | PA通道 | UT通道 | ||
脈沖發(fā)生器/接收器:電壓 | 40 V、80 V、115 V | 95 V、175 V、340 V | ||
脈沖發(fā)生器/接收器 | 脈沖寬度 | 30 ns ~ 500 ns范圍內(nèi)可調(diào),分辨率為2.5 ns。 | 30 ns ~ 1000 ns范圍內(nèi)可調(diào),分辨率為2.5 ns。 | |
脈沖形狀 | 負(fù)方波 | 負(fù)方波 | ||
輸出阻抗 | 35 Ω(脈沖回波模式); 30 Ω(一發(fā)一收模式) | < 30 Ω | ||
接收器 | PA通道 | UT通道 | ||
增益 | 0 dB ~ 80 dB,輸入信號(hào)為550 mVp-p(滿屏高) | 0 dB ~ 120 dB,輸入信號(hào)為34.5 Vp-p(滿屏高) | ||
輸入阻抗 | 60 Ω(脈沖回波模式); 150 Ω(一發(fā)一收模式) | 60 Ω(脈沖回波模式); 50 ?(脈沖發(fā)送接收模式) | ||
系統(tǒng)帶寬 | De 0,5 MHz a 18 MHz (NOTA: el límite inferior de 0,6 MHz, indicado anteriormente, usaba una atenuación precisa de –3 dB para la frecuencia de corte). | 0.25 MHz ~ 28 MHz(–3 dB) |
聲束形成 | 掃查類型 | 扇形或線性 | ||
---|---|---|---|---|
組數(shù)量 | 1個(gè) | |||
數(shù)據(jù)采集 | PA通道 | UT通道 | ||
有效數(shù)字化頻率 | 100 MHz | 100 MHz | ||
脈沖速率 | 6 kHz(C掃描) | |||
數(shù)據(jù)處理 | PA通道 | UT通道 | ||
數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù) | 最多8192個(gè) | |||
實(shí)時(shí)平均 | PA:2、4、8、16 | UT:2、4、8、16、32、64 | ||
檢波器 | 射頻、全波、正半波和負(fù)半波 | |||
濾波 | 3個(gè)低通、3個(gè)帶通、5個(gè)高通濾波器 | 3個(gè)低通、6個(gè)帶通、3個(gè)高通濾波器(TOFD配置下為8個(gè)低通濾波器) | ||
視頻濾波 | 平滑(根據(jù)探頭頻率范圍調(diào)節(jié)) |
數(shù)據(jù)顯示 | A掃描刷新率 | A掃描:60 Hz; S掃描:60 Hz |
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數(shù)據(jù)同步 | 根據(jù)內(nèi)部時(shí)鐘 | 1 Hz ~ 6 kHz |
根據(jù)編碼器 | 雙軸:1步 ~ 65536步 | |
可編程的時(shí)間校正增益(TCG) | 點(diǎn)數(shù)量 | 16個(gè):每個(gè)聚焦法則有一條TCG(時(shí)間校正增益)曲線 |
斜率 | 40 dB/10 ns | |
報(bào)警 | 報(bào)警數(shù)量 | 3個(gè) |
條件 | 閘門的任意邏輯組合 |
OmniScan SX儀器符合或超過ASME、AWS、API和EN規(guī)范中針對(duì)儀器和軟件規(guī)定的要求。
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這個(gè)已獲
的聚焦楔塊系列在對(duì)管道周向上的環(huán)焊縫進(jìn)行檢測時(shí),有助于補(bǔ)償聲束在被動(dòng)軸方向的發(fā)散現(xiàn)象。寬度較小的聲束可以對(duì)掃查軸方向上的較短的缺陷進(jìn)行定量,從而有助于降低報(bào)廢率,并提供更清晰的圖像。查看產(chǎn)品
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晶片的中心和最后晶片的中心到與它們最近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米)。它們非常適用于復(fù)合材料的通道檢測和復(fù)合材料的C掃描檢測(分層、脫粘和多孔性)。
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